概述

塞規(guī)(BMD)是具有自動(dòng)顯示、自動(dòng)定中心功能的高精度測量儀器。這種量規(guī)使用方便，適合靜態(tài)和動(dòng)態(tài)測量。通過手動(dòng)測量可以檢測出孔的尺寸偏差和形狀誤差，也可以安裝在測量設(shè)備上進(jìn)行自動(dòng)檢測。

此測量系統(tǒng)具有應(yīng)用范圍廣、操作簡單、精度高、結(jié)構(gòu)牢固等優(yōu)點(diǎn)。標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品中有很多可選擇的基本型號，并提供了可用附件，以確?？梢詼y量實(shí)際應(yīng)用中所遇到的多數(shù)孔徑。

量儀的顯示部分可以是機(jī)械表、數(shù)顯表或連接到分析設(shè)備的傳感器。

簡介

機(jī)械傳輸測量系統(tǒng)可以與任何筆式傳感器、度盤式或數(shù)顯式千分表連接。

應(yīng)用范圍為3-270mm，借助大量的配件，可以配置成測量深度超出500mm的孔，并可以測量與插入方向垂直的孔。

借助大量的模塊化部件，滿足各種測量需要。

由于機(jī)械傳輸系統(tǒng)具有非常高的精度。因此對于調(diào)零，只需要一塊標(biāo)準(zhǔn)件即可完成。

該機(jī)械式塞規(guī)具有高精度、高可靠性、并且非常結(jié)實(shí)。只需要定期清理機(jī)械測量傳輸區(qū)，而無需太多維護(hù)，

零點(diǎn)校準(zhǔn)

使用校對環(huán)規(guī)進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，校對環(huán)規(guī)的尺寸與孔的最小尺寸相同。如此可以確保在校準(zhǔn)過程中極大的減小了軸向和徑向的誤差。

遵循JB/T11233-2012標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)規(guī)是適合的校對環(huán)規(guī)。較大尺寸的校對環(huán)規(guī)，或最小尺寸、中間尺寸和最大尺寸的校對環(huán)規(guī)通常是不需要的。

主要特征

●測量精度高，重復(fù)性可達(dá)1pm。

●可測量的直徑范圍:3~270mm。

●測量傳輸系統(tǒng)耐用度很高，可以進(jìn)行10.000.000多次測量循環(huán)。

●結(jié)實(shí)而獨(dú)特的耐沖擊結(jié)構(gòu)。

●對所有處于測量范圍內(nèi)的直徑都保證優(yōu)良的計(jì)量學(xué)性能。

●可以與任意測量設(shè)備連接(度盤式、數(shù)顯式千分表或電子單元)。

●與任何用于機(jī)電應(yīng)用場合的筆式傳感器兼容。

●與主要競爭對手的配件兼容。

●價(jià)格富有競爭優(yōu)勢。

●交貨時(shí)間短。

測量原理

導(dǎo)向圓柱(4)可使測頭測點(diǎn)(6)位于孔的軸向和徑向中心。研磨出有錐度的測針(3)以1:1的比例將測點(diǎn)的測量行程傳遞給夾緊在手柄(2)上的顯示表。

重復(fù)精度

塞規(guī)的導(dǎo)向圓柱決定了測點(diǎn)在孔中的位置，并保證了高重復(fù)精度。如果孔和導(dǎo)向圓柱間的間隙過小或過大，由于縱向或橫向的傾斜，會(huì)導(dǎo)致重復(fù)精度降低。

保養(yǎng)

不需要特殊的保養(yǎng)。如果需要清潔，則移出測針，使用壓縮空氣和清潔液仔細(xì)地清潔塞規(guī)體和測針。

請注意:在安裝前，在測針的錐型部分涂油脂(例如凡士林)。在安裝6系列和10系列測針時(shí)請確保重新安裝上彈(4系列沒有彈簧)

公稱尺寸

塞規(guī)的訂貨尺寸(名義尺寸=孔的最小尺寸)

Ф35 D7=Ф35+0.105/+0.08            BMD名義尺寸=35.08

Ф35 H7=Ф35+0.025/+0                 BMD名義尺寸=35.0

機(jī)械式塞規(guī)BMD型

基本型式

直徑小于44.0mm時(shí)，導(dǎo)向體和螺紋連接部分為一個(gè)整體。當(dāng)直徑大于44.0mm時(shí)，導(dǎo)向體和螺紋連接體為分別制造的。

基本型式的塞規(guī)通常用于手動(dòng)測量，因此加工出一個(gè)導(dǎo)向槽，用于保護(hù)塞規(guī)進(jìn)入孔時(shí)不會(huì)堵塞。4系列的BMD塞規(guī)沒有導(dǎo)向槽。

塞規(guī)的分類

S型 用于普通孔測量的標(biāo)準(zhǔn)塞規(guī)由于L1的尺寸較小，因此不適合直接測量孔的邊緣。

D型 用于通孔測量的塞規(guī)

FB型 用于盲孔測量的塞規(guī)

這種型式的塞規(guī)用于測量工件的通孔。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是，加長的L1尺寸，可以確保直接測量孔的邊緣

這種型式的塞規(guī)通常用于測量孔的底部或測量淺孔。測量淺孔時(shí)，導(dǎo)向槽的尺寸應(yīng)減小或去掉。

機(jī)用塞規(guī)方案

平動(dòng)機(jī)構(gòu)的裝夾可以用55的外圓或者3-M4的螺紋孔